開爾文探針掃描主要應用于以下領域
更新時間：2022-04-11 點擊次數(shù)：837
開爾文探針掃描是一種基于振動電容的非接觸無損氣相環(huán)境金屬表面電位的測量技術，用于測量材料的功函數(shù)(WorkFunction)或表面勢(SurfacePotential)。它可以用于檢測氣相環(huán)境中因溫度、濕度、表面的化學、電學、力學、晶體、吸附、成膜等因素引起的材料表面電勢的微小變化，是一種高靈敏的表面電化學分析技術，是能夠測定氣相環(huán)境中腐蝕電極表面電位的方法。
特點：
(1)高速高分辨電位分布測量功能。
(2)快速變化電位分布測量功能。
(3)低噪聲電位分布測量功能。
(4)智能調試功能。
(5)實時測量顯示功能。
(6)電位分布數(shù)據解析功能。
(7)表面探針狀態(tài)監(jiān)測功能。
(8)探針高度自動測量功能。
(9)探針-樣品防碰撞報警功能。
(10)移動平臺超限報警功能:具有X、Y、Z三軸正負方向超限報警停止移動功能。
(11)掃描方案定制功能:包括定時自動重復-分區(qū)-定點/掃描測量和自動返回起點功能。
開爾文探針掃描應用于以下領域:
(1)薄液膜(2~3000微米)金屬的電化學行為(極化曲線、電化學阻抗)。
(2)沉積物和氣相環(huán)境因素對大氣腐蝕行為影響。
(3)材料大氣腐蝕行為。
(4)氣相環(huán)境電偶腐蝕行為。
(5)氣相環(huán)境金屬局部腐蝕行為。
(6)氣相環(huán)境金屬應力腐蝕行為。
(7)氣相環(huán)境金屬滲氫行為。
(8)涂層失效行為與涂層性能評價。
(9)氣相緩蝕劑性能和作用機理。
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